2020-06-18
一、課程簡介:
半導體產業中製造到成品必須經歷很多材料的製程工序,每一個工序都可能會造成良率或可靠度不穩定,本課程著重積體電路製造產線過程中的監控量測與良率關係,確保積體電路製造中每一個製程都能符合預期成效,講解如何設計監控的查核點(WAT)將是本課程的重點以及調整查核點(WAT)的嚴謹程度,解說與推論積體電路故障的成因以及用什麼方法找出問題,藉此來修正製程流程.另外產品等級的測試(CP)方法與製程關係也會進行解說,另外也會描述半導體元件或電路中與可靠度相關的知識與名詞,讓剛踏入這個領域的人員可以快速吸收從製程開始到產品完成過程中良率、故障與可靠度分析的所有專業知識,最後說明目前業界經常使用的故障分析工具來強化工作上的實戰經驗,讓分析理論與工作實務得到驗證。
二、招生對象:
對積體電路監控產業暨相關系統業者之在職人士皆可報名
三、上課時數:12小時
四、預定人數:20人
五、費用:學員負擔6000元,政府負擔6000元
六、執行計畫名稱:金屬產業智機化提升計畫
七、開班單位:社團法人台灣電子設備協會
八、課程聯絡人/聯絡電話:鄭小姐/02-27293933-22
九、相關網址:https://www.teeia.org.tw/zh-tw/Course/109061819/68
十、開班單位保留調整課程內容之權利,以上資訊若有更動,依上述網站公告為準,恕不另行通知,敬請見諒。
活動資訊
積體電路製程監控、良率與故障分析技術人才培訓班 (2020-06-18 08:00 ~ 2020-06-19 17:00)
活動地點:台北世貿一館 (臺北市信義區信義路五段5號3樓3E41室)
參與人: 鄭小姐
聯絡人:鄭小姐 (02-27293933-22)
聯絡單位:社團法人台灣電子設備協會
聯絡單位連絡人:鄭小姐
聯絡單位電話:02-27293933-22
資料來源: 經濟部工業局